原子吸收光度計是根據(jù)物質基態(tài)原子蒸汽對特征輻射吸收的作用來進行金屬元素分析，它能夠靈敏可靠地測定微量或痕量元素。該儀器一般由四大部分組成，即光源（單色銳線輻射源）、試樣原子化器、單色儀和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)（包括光電轉換器及相應的檢測裝置）。

　　當在兩極之間施加200V-500V電壓時，便產生輝光放電。在電場作用下，電子在飛向陽極的途中，與載氣原子碰撞并使之電離，放出二次電子，使電子與正離子數(shù)目增加，以維持放電。正離子從電場獲得動能。

　　如果正離子的動能足以克服金屬陰極表面的晶格能，當其撞擊在陰極表面時，就可以將原子從晶格中濺射出來。除濺射作用之外，陰極受熱也要導致陰極表面元素的熱蒸發(fā)。濺射與蒸發(fā)出來的原子進入空腔內，再與電子、原子、離子等發(fā)生第二類碰撞而受到激發(fā)，發(fā)射出相應元素的特征的共振輻射。

　　原子吸收光度計在使用過程中，會受到以下因素的干擾：

　　1、光譜干擾：此干擾主要是樣品中存在其它元素造成的干擾。此干擾近年來因中空陰極射線技術的提升已很少發(fā)生。

　　2、基質干擾：一般此干擾原因有：

　?。?）溶液中含有機溶劑而造成吸收度的增加。

　?。?）因溶液的黏滯性較高因霧化效率下降而造成吸收度下降。

　?。?）溶液的鹽度較高而造成吸收度下降。

　　3、化學干擾：此干擾常發(fā)生于利用原子吸收來分析鎂、鈣、鍶及鋇等金屬。常見的干擾物種有硅酸鹽、磷酸鹽及鋁酸鹽等化合物。一般解決的方法有兩種，一為利用螯合劑(EDTA)與金屬錯合，二為添加氯化鑭與造成干擾的陰離子錯合或者可利用笑氣-乙炔來解決化學干擾的問題。

　　4、放射干擾：此干擾主要來自于樣品放射出與欲吸收的波長相同。此干擾可藉由提高電流強度或降低狹縫寬度來解決。

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